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什么是DFT,DFT是什么意思求答案


                
可测试性技术(Design For Testability-DFT)就是试图增加电路中信号的可控制性和可观测性,以便及时经济地测试芯片是否存在物理缺陷,使用户拿到良好的芯片。其中包括Ad Hoc技术和结构化设计技术。目前,任何高IC设计系统都采用结构化设计技术,其中主要扫描技术和内建自测两种技术。
一个电路的测试性问题应该包括两个方面:
由外部输入信号来控制电路中的各个节点的电平值,称为可控制性。
从外部输出端观测内部故障地难易程度,称为可观测性
扫描技术是指电路中的任一状态移进或移出的能力,其特点使测试数据的串行化。比较常使用的是全扫描技术和边界扫描技术。全扫描技术是将电路中的所有触发器用特殊设计的具有扫描功能的触发器代替,使其在测试时链接成一个或几个移位寄存器,这样,电路分成了可以进行分别测试的纯组合电路和移位寄存器,电路中的所有状态可以直接从原始输入和输出端得到控制和观察。这样子的电路将时序电路的测试生成简化成组合电路的测试生成,由于组合电路的测试生成算法目前已经比较完善,并且在测试自动化生成方面比时序电路的测试生成容易得多,因此大大降低了测试生成的难度。
对于存储器模块的测试一般由生产厂家提供专门的BIST电路,通过BIST电路可以方便地对存储单元地存取功能进行测试,所谓的BIST电路是指把测试电路做到IC里面,利用测试电路固有的能力自行执行一个测试存储器的程序。另外MBIST还可以解决RAM SHADOW的问题提高芯片的可测试性。
为什么要做DFT呢?因为我们的设计,也就是RTL到GDSII交出去的只是一个版图,最后芯片需要生产织造是在foundry做的,也就是厂家根据你提供的数据GDSII做成芯片。这个流程过程中可能出现缺陷,这个缺陷可能是物理存在的,也可能是设计当中的遗留问题导致的,另外一方面在封装的过程也可能出现缺陷。为了保证我们的芯片能够不存在物理上的缺陷,所以就要做DFT。也就是说,你交给foundry一个加法器的GDSII,他在做的过程和封装的时候都可能引入缺陷;拿到这个加法器芯片你怎么知道,里面的一个与门,厂家给你做的就是一个正常工作的与门呢?你怎么知道厂家做好的加法器的dier在封装之后引脚就能正常输入呢?一句话,就是通过DFT!

DTFT和DFT区别是什么


                

DTFT, DFT 的区别是含义不同、性质不同、用途不同。


1、含义不同:DTFT是离散时间傅里叶变换,DFT是离散傅里叶变换。


2、性质不同:DTFT变换后的图形中的频率是一般连续的(cos(wn)等这样的特殊函数除外,其变换后是冲击串),而DFT是DTFT的等间隔抽样,是离散的点。


3、用途不同:DFT完全是应计算机技术的发展而来的,因为如果没有计算机,用DTFT分析看频率响应就可以,为了适应计算机计算,那么就必须要用离散的值,因为计算机不能处理连续的值。


参考资料来源:


百度百科-DTFT


百度百科-DFT


DTFT和DFT区别是什么


                

DTFT, DFT 的区别是含义不同、性质不同、用途不同。


1、含义不同:DTFT是离散时间傅里叶变换,DFT是离散傅里叶变换。


2、性质不同:DTFT变换后的图形中的频率是一般连续的(cos(wn)等这样的特殊函数除外,其变换后是冲击串),而DFT是DTFT的等间隔抽样,是离散的点。


3、用途不同:DFT完全是应计算机技术的发展而来的,因为如果没有计算机,用DTFT分析看频率响应就可以,为了适应计算机计算,那么就必须要用离散的值,因为计算机不能处理连续的值。


参考资料来源:


百度百科-DTFT


百度百科-DFT


dft是线性变换吗


                

dft是一种线性变换。


线性变换(linear transformation)是线性空间V到其自身的线性映射。


而傅立叶变换(dft),表示能将满足一定条件的某个函数表示成三角函数(正弦和/或余弦函数)或者它们的积分的线性组合。在不同的研究领域,傅立叶变换具有多种不同的变体形式,如连续傅立叶变换和离散傅立叶变换。最初傅立叶分析是作为热过程的解析分析的工具被提出的。


傅立叶变换应用:


尽管最初傅里叶分析是作为热过程的解析分析的工具,但是其思想方法仍然具有典型的还原论和分析主义的特征。


"任意"的函数通过一定的分解,都能够表示为正弦函数的线性组合的形式,而正弦函数在物理上是被充分研究而相对简单的函数类,这一想法跟化学上的原子论想法何其相似!奇妙的是,现代数学发现傅里叶变换具有非常好的性质,使得它如此的好用和有用。


“DFT、IDFT、FFT、IFFT”各是什么?


                

DFT,即可测试性设计(Design for Testability, DFT)是一种集成电路设计技术,它将一些特殊结构在设计阶段植入电路,以便设计完成后进行测试。电路测试有时并不容易,这是因为电路的许多内部节点信号在外部难以控制和观测。通过添加可测试性设计结构,例如扫描链等,内部信号可以暴露给电路外部。总之,在设计阶段添加这些结构虽然增加了电路的复杂程度,看似增加了成本,但是往往能够在测试阶段节约更多的时间和金钱。


IDFT就是Inverse Discrete Fourier Transform 离散傅里叶逆变换。FFT就是Fast Fourier Transform 快速傅里叶变换。


两者的应用都是将时域中难以处理的信号转换成易于处理的频域信号,分析完成后进行傅里叶反变换即得到原始的时域信号。
两者的异同是:我们知道在数学上用级数来无限逼进某个函数,以便简化计算过程而又不致使误差过大,这样工程上才能应用,否则一些数学模型是无法实现快速求解的。


IDFT:对于有限长的序列我们可以使用离散傅立叶变换,IDFT是对序列傅立叶变换的等距采样。


FFT:并不是与IDFT不相同的另一种变换(即原理是一样的),而是为了减少IDFT运算次数的一种快速算法。它是对IDFT变换式进行一次次的分解,使其成为若干小点数IDFT的组合,从而减小运算量。常用的FFT是以2为基数,它的运算效率高,程序比较简单,使用也十分地方便。


IFFT——Inverse Fast Fourier Transform 快速傅里叶逆变换。


快速傅里叶变换 (fast Fourier transform), 即利用计算机计算离散傅里叶变换(DFT)的高效、快速计算方法的统称,简称FFT。快速傅里叶变换是1965年由J.W.库利和T.W.图基提出的。采用这种算法能使计算机计算离散傅里叶变换所需要的乘法次数大为减少,特别是被变换的抽样点数N越多,FFT算法计算量的节省就越显著。


dft指的是什么?


                

DFT(离散傅里叶变换)一般指离散傅里叶变换。


离散傅里叶变换(Discrete Fourier Transform,DFT)傅里叶分析方法是信号分析的最基本方法,傅里叶变换是傅里叶分析的核心,通过它把信号从时间域变换到频率域,进而研究信号的频谱结构和变化规律。


物理意义


设x(n)是长度为N的有限长序列,则其傅里叶变换,Z变换与离散傅里叶变换分别用以下三个关系式表示:


X(e^jω)= ∑n={0,N-1}x(n) e^j-ωn。


X(z)= ∑n={0,N-1}x(n)z^-n。


X(k)= ∑n={0,N-1}x(n) e^-j2πkn/N。


单位圆上的Z变换就是序列的傅里叶变换。


离散傅里叶变换是x(n)的频谱X(ejω)在[0,2π]上的N点等间隔采样,也就是对序列频谱的离散化,这就是DFT的物理意义。


dft指的是什么?


                

DFT(离散傅里叶变换)一般指离散傅里叶变换。


离散傅里叶变换(Discrete Fourier Transform,DFT)傅里叶分析方法是信号分析的最基本方法,傅里叶变换是傅里叶分析的核心,通过它把信号从时间域变换到频率域,进而研究信号的频谱结构和变化规律。


物理意义


设x(n)是长度为N的有限长序列,则其傅里叶变换,Z变换与离散傅里叶变换分别用以下三个关系式表示:


X(e^jω)= ∑n={0,N-1}x(n) e^j-ωn。


X(z)= ∑n={0,N-1}x(n)z^-n。


X(k)= ∑n={0,N-1}x(n) e^-j2πkn/N。


单位圆上的Z变换就是序列的傅里叶变换。


离散傅里叶变换是x(n)的频谱X(ejω)在[0,2π]上的N点等间隔采样,也就是对序列频谱的离散化,这就是DFT的物理意义。

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